探针卡是由探针(probe pin)、电子元件(component)、线材(wire)与印刷电路板(PCB)组成的一种测试接口,根据不同的情况,还会有电子元件、补强板(Stiffener)等的需求,主要对裸芯进行测试,即wafer level测试。
2024年10月20日 · 探针卡(Probe Card)在集成电路测试中起着至关重要的作用,尤其在晶圆测试(wafer test)环节,探针卡作为连接ATE测试机台和半导体晶圆之间的接口,确保了在芯片封装前对其电学性能进行初步测量和筛选。
2024年1月15日 · 探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要用于芯片封装前对芯片的电学性能进行初步测试,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程,因此,探针卡的作用至关重要,属于半导体核心检测耗材。
探针卡=探针+电子元件+线材+PCB 。是一种集成化的测试接口,主要是对没有封装的裸芯片(Die)进行测试(原因很简单,如果封装好了,就可以焊接在电路上进行测了啊)。
2021年4月28日 · 探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程。
2024年10月28日 · 探针是探针卡的核心部件,负责实际与晶圆接触,pcb则作为载体,承载探针和其他元件,并实现信号传递。 根据测试要求,探针卡还可以包含其他元件,例如补强板(stiffener)以增强其稳定性。
探针卡(英语: Probe card )是晶圆与电子测试系统之间的媒介 [1] 。探针卡通常直接放在探测器上并用接线连接测试机。它的目的是提供晶片与测试机之间的连结,并完成晶圆测试。通常包印刷电路板和其他要件,这种要件可能是金属或其他材料。
探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要用于芯片封装前对芯片的电学性能进行初步测试,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程,因此,探针卡的作用至关重要,属于半导体核心检测耗材。
本文将说明用于半导体工件电气检测的探针卡与接触式探针的基础知识、寿命以及观察和测量的重要性。 另外,还将介绍使用新型4K数码显微系统进行观察以及非接触式三维尺寸测量的案例。
垂直式探针卡,一般测试点比较密集,适用于逻辑类型产品的晶圆测试。包括如CPU,GPU,或者MCU,MPU,以及SoC产品或者多sites同测的WlCSP产品。其主要特点是探针短,阻抗等电性能一致性好,接触压力稳定,针痕也比较小,适用于小间距,高频芯片测试。